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四探针电阻率测试仪  厂家
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产品型号:
KDK-KDY-1
产品名称:
四探针电阻率测试仪 厂家
产品报价:
产品特点:
四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/ 厂家
四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。
  KDK-KDY-1四探针电阻率测试仪 厂家的详细资料:

四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪(自动测试台+带软件)厂家 型号:KDK-KDY-1

四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。
本仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源,使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关,在测量某些箔层材料时,可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生,更好地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品:“小游移四探针头”,探针游移率在0.1~0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器,测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正,并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。
2、主机技术能数
(1)测量范围:
可测电阻率:0.0001~19000Ω•cm
可测方块电阻:0.001~1900Ω•□
(2)恒流源:
输出电流:DC 0.001~100mA 五档连续可调
量程:0.001~0.01mA
0.01~0.10mA
0.10~1.0mA
1.0~10mA
10~100mA
恒流精度:各档均低于±0.05%
(3)直流数字电压表:
测量范围:0~199.99mV
灵敏度:10μV
基本误差:±(0.004%读数+0.01%满度)
输出电源:≥1000ΩM
(4)供电电源:
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率:12W
(5)使用环境:
温度:23±2℃ 相对湿度:≤65%
无较强的电场干扰,无强光直接照射
(6)重量、体积:
主机重量:7.5kg
体积:365×380×160(单位:mm 长度×宽度×高度)

备注:
等级测量时(测电阻率),精度<3%
电气测量时(测电阻),精度在0.3%以内 

备注:
仪器包括:主机一台;测试架(包括台面)一个;四探针头1个;软件

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

磁场测量与描绘实验仪   型号:HAD-FB526

 

可完成实验内容

测定螺线管中心轴线的磁感应强度,与理论值进行比较;
☆测定螺线管外部的磁感应强度分布并确定各点的磁场方向。

仪器主要技术参数

☆励磁电源:AC 15V,18V,24V,50Hz,三档可调,有输出短路保护;
☆励磁电流: 100~200mA;励磁线圈:直径:D=0.061m ;长度:L=0.080m;
☆螺线管线圈:匝数:N=2700匝;探测线圈有效半径:匝数:N=800匝;
☆探测线圈测试范围:轴向:±120mm,径向:±45mm;测试角度:±90°。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

高精度绝热材料导热系数测试仪  保温材料导热系数测试仪  型号:HAD-DRPL-IV

一、概述:
      采用国际上流行的热流计检测导热系数和热阻方法,配计算机实现全自动检测,生成实验报告。仪器采用在试样一面加入稳定的热面温度,热量通过试样传递到冷面,测量传递的热流来计算导热系数和热阻。采用进口传感器与计算机技术,测量精度好,可靠性高,重复性好的特点。特别适用于低导热系数的测量(精确至0.1mw)。可用于塑料、橡胶气凝胶板、真空玻璃、保温材料等测试,广泛应用在大专院校、科研院所、质检、厂矿。参考标准:GB/T10295-2008(绝热材料稳态热阻及有关特性的测定热流计法)及ASTM C518-04用热流计法测定稳态热通量和热传递特性的试验方法。

 
二、主要技术参数: 
1、导热系数范围与精度: 0.0001~1W/mk,可测量可精确至0.1mw/mk
2、测量精度:1%。
3、试样大小:50×50~300×300(mm),厚度不大于80mm。特殊尺寸可定制。
4、可测试固体材料、粉状材料。
5、测量时间15-20min。
6、热面温度与控制:室温-199.9℃(标准配置),室温-499.9℃,可根据用户要求确定更高温度。平板加热器,双向可控硅控制,控温精度0.1℃。
7、冷面温度与控制:0-99.9℃(标准配置),-10-99.9℃,可根据用户要求确定更低的温度。冷面采用水冷,确保冷面温度稳定(精密恒温水槽,温度可调),控温精度0.1℃。
8、试样采用计算机精准加压夹紧,压力范围0-1000N,分辨力0.1N。
9、试样厚度自动测量, 0-50mm,分辨率1um 。
10、采用进口热流计,性能稳定可靠。
11、全过程采用计算机自动测试并存打印储存实验数据。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

实验室测定仪 检测仪  台式测定仪 型号:HAD-QHW

技术参数

 

1、测量范围:0.01~0.50mg/L,超过稀释测定

2、最小分辨率:0.01 mg/L

3、示值误差: ≤±5%

4、重复性 :≤3%

5、光学稳定性:≤0.002A/20min

6、外形尺寸:主机 266mm×200mm×130mm

7、功耗:30W

8、重量:小于1kg 

 

产品特点

 

1、利用冷光、单色光作光源,光学稳定性,不会受到各种光的干扰。

2、大屏幕液晶显示,所有设定、标定、记录操作全部在同集成环境下实现。

3、利用V/F转换、软件冗余、软件陷阱等技术,抗干扰性强。

4、可贮存10条工作曲线及99个历史记录,断电不丢失。

5、具有出厂校准和用户自定义标定功能

6、主机机壳采用模后ABS材料,防腐蚀性好

 

产品配置清单

 

主机1台、比色管10支,试剂1套,电源线1根,说明书、合格证和保修卡各1份。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品名称:粉末电阻率测定仪 粉末电阻率测试仪 

产品型号:HAD-ALC-25

 

 

HAD-ALC-25型粉末电阻率测定仪用于测量特定粒径的煅后石油焦颗粒在一定的稳定压力下的电阻率;也可用于测量焦炭、沥青焦等导电颗粒的电阻率。 
仪器特征:本产品符合ISO10143 、YST587.6-2006标准要求。 
● 液晶触摸面板操作,微处理器作为控制中心,记录测试时间、样品编号、测量电压、测量电流、压力值等参数,并以电子表格的形式存储在本地,可随时查询,也可通过网络上传上位机。 
● 操作简单,人机界面较好,无需特殊培训。 
● 液压控制技术,加入恒压系统,压力恒定后取测量值,重复性很好。 
● 活动测量筒设计,方便操作。 
● 重复性、重现性都优于国外设备,具有很高的性价比。 
技术参数: 
电阻率测量范围:10μΩm~2800μΩm; 
测量精度:±0.01μΩm; 
重复性:5%;再现***%; 
测量压力:3MPa±1%。 
恒流电源:500mA±0.01mA,1.2V。 
位移测量范围:50mm,测量精度:0.1%。 
电机功率:180W。

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