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产品名称/型号
产品简介
GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A四探针测试仪（便携式）
GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
GSZ-RTS-2四探针测试仪（便携式）/四探针电阻率测试仪
四探针测试仪（便携式）/四探针电阻率测试仪 GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
ST2258C数字式四探针测试仪 四探针电阻率测试仪
数字式四探针测试仪 四探针电阻率测试仪 ST2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
HAD-ST2722半导体四探针电阻率测试仪 电阻率测定仪
半导体四探针电阻率测试仪 电阻率测定仪 ST2722 型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。
HAD-M-3手持式四探针测试仪 四探针电阻率测试仪
手持式四探针测试仪 四探针电阻率测试仪 HAD-M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
KDK-KDY-1四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪
四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪 四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。
KDK-KDY-1A便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪
便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的及国家标准测试方法有关规定。
KDK-KDY-4四探针电阻率测试仪
四探针电阻率测试仪 KDK-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。
KDK-KDY-1四探针电阻率测试仪
四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/ 四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
JH-WSP-11四探针电阻率测试仪
四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/电阻率测试仪 1、连接好测试探头电缆与主机，接上电源。 2、仪器显示开机界面“-J-H-”，等待几秒钟进入测试界面。 3、调节厚度，按‘+’、‘-’调节，如图所示，数值为3.98mm。
CH-WSP-6半导体电阻率测试仪
半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪 CH-WSP-6型半导体电阻率测试仪是于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是硅料分选测试的理想工具。
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