半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪 型号：CH-WSP-6

CH-WSP-6型半导体电阻率测试仪是于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是硅料分选测试的理想工具。

1、 主要指标:

电源：220V交流

可测晶片直径（zui大）Ф100mm,方形230×220mm

恒流源：电流量程为0.01～1mA连续可调，误差≦±0.5%。

数字电压表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV

电阻率显示：三位半数字显示：小数点、极性、过载、自动显示0.01-199.99欧姆。厘米

输入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω

测量精度：±0.1。

zui大电阻测量误差（按JJG508-87进行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%读数±2个字。

重掺检测误差（JJG508-87进行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%

测量环境：温度23±2℃，相对湿度≤65%

2、操作程序：

  1、首先连好电源，打开后面板电源开关，电源指示灯亮，表示待机完毕。

  2、校准设备：厚度小于3.98mm取与要备测试硅材料厚度相同的硅材料标准样块校准电阻率测试仪，测试厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一标准样块校准电阻率测试仪

  3、测试：用四探针接触硅材料，以探针压下三分之二为准，待仪器显示数字稳定即可，

  4校验：在测试过程中要求2小时用标准样块校准一次设备，

3、 针组件;维护及注意事项:

  1、一般情况下,除了信号传输线的断裂引起的故障外, 针的维护主要包括针头的更换和针头的清理清洁工作

  2、维护后的安装及维护过程中,注意安装过程中的排线位置,按绿红黄黑（1234）位置排列

多管快速混合器/多管混合器   型号；HAD-MT-360

产品名称：	多管快速混合器MT-360
产品代码：	多管快速混合器MT-360
产品描述：

试管摇摆混合仪/试管摇摆混合器     型号；HAD-BE-2011

产品名称：	BE-2011试管摇摆混合仪
产品代码：	BE-2011试管摇摆混合仪
产品描述：

标准测量天线  测量天线  型号：HA/MS2000E

产品特点 Product Features

，性能与国外公司的标准天线产品相似，达到国内水平 。MS2000E标准测量天线不仅适用于本公司的场强仪，同时还可与各类场强仪及测试接收机配套使用。可用于有线电视和无线网络测量。

功能介绍 Functional Intro

● 适用于： 40MHz～1000MHz频段的水平极化电波与垂直极化电波
● 驻波比： VSWR＜2.5
● 阻  抗： 75Ω  、50Ω 
● 高  度： 2m～6m

反向传输信号源 信号源 型号：HA/MS2280

产品特点 Product Features

● 体积小重量轻，信号输出非常精确。
● 尺寸：134X68X23mm　
● 重量：140g
● 输出信号频点：8,34,60MHz或 20,40,60MHz, 或10,20,30MHz或10,30,50MHz任选一种(也可用户定制)
● 输 出 幅 度：当开关置于K1位置时输出105dBuV±1.0dBuV(红灯亮)当开关置于K2位置时输出85dBuV±1.0dBuV(绿灯亮)
● 电        源：AA 普通5#电池2只（用户自配）