电阻率测试仪_第(2)页-北京恒奥德科技有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简介
	HAD-BR-DXB电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪	电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪 HAD-BR-DXB型半导电屏蔽橡塑材料体积电阻率测试仪是高、化综合电阻测量实验组合装置，它主是为产品质量检测机构、电线电缆检测实验室、高校、材料检测实验室等实现半导电屏蔽电阻率和半导体橡塑材料体积电阻率制作的。
	HAD-M-3手持式四探针测试仪四探针电阻率测试仪	手持式四探针测试仪四探针电阻率测试仪 HAD-M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
	KDK-KDY-1四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪	四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。
	KDK-KDY-1A便携式四探针电阻率测试仪四探针电阻率测试仪	便携式四探针电阻率测试仪四探针电阻率测试仪便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的及国家标准测试方法有关规定。
	KDK-KDY-4四探针电阻率测试仪	四探针电阻率测试仪 KDK-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。
	KDK-KDY-2两探针电阻率测试仪/二探针电阻率测试仪/两探针仪（测锗）	两探针电阻率测试仪/二探针电阻率测试仪/两探针仪（测锗） KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我国国家标准GB/T1551-1995及美国材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”。
	KDK-KDY-1四探针电阻率测试仪	四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/ 四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。
	JH-WSP-11四探针电阻率测试仪	四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/电阻率测试仪 1、连接好测试探头电缆与主机，接上电源。 2、仪器显示开机界面“-J-H-”，等待几秒钟进入测试界面。 3、调节厚度，按‘+’、‘-’调节，如图所示，数值为3.98mm。
	JH-WSP-3电阻率测试仪	电阻率测试仪电阻率测试仪是运用四探针测量原理的综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。
	JH-WSP-7便携式型号电阻率测试仪	便携式型号电阻率测试仪 1. 便携式，使用9V供电 2. 具有电阻率及型号测试功能，适合分选型号，并能够测试并显示出电阻率的值。 3. 预设样片厚度，自动修正，直读电阻率
	CH-WSP-6半导体电阻率测试仪	半导体电阻率测试仪/四探针电阻率测试仪 CH-WSP-6型半导体电阻率测试仪是于各种半导体材料包括:片状硅料、晶体、晶体等的电阻率测定的设备,测定范围:0.01-199.99欧姆厘米，是硅料分选测试的理想工具。

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