探针-北京恒奥德科技有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简介
	GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A四探针测试仪（便携式）	GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
	HA/RTS-5双电测四探针测试仪	双电测四探针测试仪/四探针测试仪　型号：HA/RTS-5
	HA-11063探针温度计/探针中心温度计 *	探针温度计/探针中心温度计 * 温度范围:40°F to 302°F （-40°C to 155°C）精确度:±1.0°F （4°F to 194°F ） ±0.5°C （-20°C to 45°C），或者 ± 1.8°F （± 1°C）分辨率:0.1°F （0.1°C）
	HD-11063探针中心温度计/便携式中心温度计 *	探针中心温度计/便携式中心温度计 * 超声波雨量计/超声波数字雨量计/ 型号:HADST-URG 三合一气体检测仪/氨气、一氧化碳,二氧化碳检测仪型号:HAD-3 二合一气体仪/氨气、一氧化碳检测仪型号:HAD-2 二合一气体仪/氨气、一氧化碳检测仪型号:HAD-2
	CST-400电阻探针腐蚀监测仪 *	电阻探针腐蚀监测仪 * 数字压力校验仪数字压力校验仪压力校验仪型号：MC-SPMK2002 不锈钢电热板/调温加热板型号:H3A 不锈钢/玻璃钢板巴歇尔槽/巴歇尔污水计量槽/巴式计量槽型号:HAD-8号便携式多参数水质分析仪型号：HA-S01B 光纤光栅埋入式应变计型号；BHJ-FBG-4200T
	KDK-KDY-1低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪 *	低阻型四探针检测仪/方阻仪/四探针电阻率检测仪 * 仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法（2）范围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-5欧姆·厘米方块电阻10-4～10+4欧姆/□，Z小分辨率为10-4欧姆/□ （3）可测量材料：半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等可准确测量的半导体尺寸：直径≥20㎜
	Ha19-HY-302A探针式测温仪 *	探针式测温仪/测温仪 * 本仪器是数字显示的温度测温仪，它适用于测量固体的表面温度。它的结构紧凑，体积小巧，便于携带和使用。它还具有反应迅速、显示清晰等特点，十分适用于工业设备的状态检测和故障诊断工作。
	HAD-WSP-51便携式四探针检测仪 *	方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 * HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。
	HAD-XX-2四探针方块电阻测试仪 *	方块电阻测试仪/方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪 * HAD-XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜）……等同类物质的薄层电阻。
	HAD-DRE-2B瞬态探针法导热系数测试仪 *	导热系数测试仪/瞬态探针法导热系数测试仪/松散料导热系数测试仪 * HAD-DRE-2B导热系数测试仪采用瞬态探针法，适用于测量高粘流体、胶状、颗粒、粉末等材料导热系数、导温系数（热扩散系数）和比热。本仪器将法与探针法相结合，在保证测量精度的同时大大提高了操作的便携性，用户仅需将探测器插入被测试样，通过简单的软件点击操作即能获得被测试样的导热系数，特别适用于现场测量。
	DT-106 德图探针式温度表 *	探针式温度表快速测温仪 * 量程宽，精度高极细探头，用于快速插入式测量声光报警，可设定报警限值配备保护软套，安全卫生测量快速（每秒测量2次）
	HAD-ST2258A数字式四探针测试仪 *	数字式四探针测试仪/数字式四探针测试仪 * 　HAD-ST2258A型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
	HAD-8107汽车刺破探针 *	汽车刺破探针 * 该测试探针可以与任何检测仪器配合使用，便于检测汽车电子控制系统的物理参数，旋转尾部黑色旋钮，使前端的探针快速安全与测试导线连接，而不破坏导线的性能，是维修技师检测和测试汽车参数的好帮手。
	HAD-8107汽车刺破探针 *	汽车刺破探针 * 该测试探针可以与任何检测仪器配合使用，便于检测汽车电子控制系统的物理参数，旋转尾部黑色旋钮，使前端的探针快速安全与测试导线连接，而不破坏导线的性能，是维修技师检测和测试汽车参数的好帮手。
	HA-RRF001探测环／探针 *	探测环／探针 * 这是一套无线电干扰场强测量仪的附件，与相应的干扰仪联用可用来寻找干扰源，漏讯处和其它干扰场强的测量。
	HAD-SB100A/2四探针金属 *	四探针金属/半导体电阻率测量仪/四探针半导体电阻率测量仪 * 由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。
	KDK-KDJ-1A四探针手动测试架 *	四探针手动测试架 * 竖测高度： 120MM 台面： 200200 KDK-KDJ-1B 竖测高度： 500MM 台面： 300320
	GSZ-ST-102A探针测试台/测试台/中测台/点测机 *	探针测试台/测试台/中测台/点测机 * GSZ-ST-102A型探针测试台、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量的中间测试。
	HA-KA33热线风速计/探针式风速仪/风速计	风速计/探针式风速仪/风速计 KANOMAX KA33风速计与KA22/31风速仪相比，体积缩小30%，电池寿命延长25% KANOMAX KA33风速计采用了3.5inch彩色大屏幕，风速、风温、差压同时显示
	GSZ-RTS-2四探针测试仪（便携式）/四探针电阻率测试仪	四探针测试仪（便携式）/四探针电阻率测试仪 GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

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