探针_第(2)页-北京恒奥德科技有限公司

座机
010-51666919
手机
15810842463

联系人: 姜雨柔
电话：86-010-51666919
手机: 15810842463,13521121754,18701256112
传真：86-010-51666919
E-mail: 2820129828@qq.copm

产品图片	产品名称/型号	产品简介
	HAD-M-2数字式四探针测试仪/四探针电阻率测定仪/四探针测试仪	数字式四探针测试仪/四探针电阻率测定仪/四探针测试仪 HAD-M-2型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
	HAD-SZT-2A四探针测试仪	四探针测试仪 1．SZT-2A 主机采用领xian的电路，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。 2．屏幕采用液晶显示（一代为只有数码管显示）。
	HAD-FD-K3食品水分测试仪探针插入式水分测定仪	食品水分测试仪探针插入式水分测定仪引进日本，采用高周波原理制成。根据被测物不同，设有多种测量转换开关。具有测量水分范围宽、精度高、体积小、重量轻、操作简便等特点，可在现场快速测定被测物水分。该仪器适用于测量食品等水分。
	SB100A/21A四探针金属/半导体电阻率测量仪	四探针金属/半导体电阻率测量仪 SB100A/21A是SB100A/21（及SB100A/3）的升级版，其为用户提供了使用SB100A/3进行四探针测试及实验的配套软件，可运行于PC机上，能兼容运行在Winxp和Win7系统中，用于自动获取实验台的实验数据，并根据条件生成曲线和报表，辅助实验人员自动完成实验，直观的分析数据，获得实验结论，保存实验数据。
	ST-102E探针测试台四探针测试台	探针测试台四探针测试台 ST-102E型探针测试台（英文叫Prober station,中文又称中测台,点测机。）、与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量的中间测试。
	ST2258C数字式四探针测试仪四探针电阻率测试仪	数字式四探针测试仪四探针电阻率测试仪 ST2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
	SW-2 0-400℃的插入式测温仪探针温度计	插入式测温仪探针温度计 SW-2煤场煤堆测温仪是专门用于煤场煤堆内部温度测温的便携式数字显示测温仪，干电池供电，体小量轻，很方便煤场煤堆现场使用。使用了SW-2煤场煤堆测温仪可随时掌握煤场煤堆内部温度状况，便于及时采取措施，消除煤场煤堆自燃的发生，确保生命财产的安全。SW-2煤场煤堆测温仪由测温仪和煤场煤堆测温探头二部分组成。
	SM-4迷你探针测试台四探针台探针测试台	迷你探针测试台四探针台探针测试台紧凑的结构轻巧的重量实惠的价格可以做光电方面测试应用 LED/LD/PD的光强/波长测试
	GSZ-HP-501四探针探头探头	四探针探头探头四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
	HAD-ST2722半导体四探针电阻率测试仪电阻率测定仪	半导体四探针电阻率测试仪电阻率测定仪 ST2722 型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。
	testo106防水型温度计德图探针温度计	防水型温度计德图探针温度计 testo 106 具有响应快、精度高的特点。适用于食品车间、餐饮、酒店、工业厨房、市场等的快速测量。该款温度仪外形小巧、经济实用。配备的探头极细而坚固，非常适合测量小尺寸食品的中心温度。
	HAD-KT-1加长食品温度计: 长探针食品温度计	加长食品温度计: 长探针食品温度计笔型结构，LCD显示，长时间不用自动关机，Recalibratable - 符合HACCP的要求
	HAD-M-3手持式四探针测试仪四探针电阻率测试仪	手持式四探针测试仪四探针电阻率测试仪 HAD-M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
	KDK-KDY-1四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪	四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。
	KDK-KDY-1A便携式四探针电阻率测试仪四探针电阻率测试仪	便携式四探针电阻率测试仪四探针电阻率测试仪便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的及国家标准测试方法有关规定。
	KDK-KDY-4四探针电阻率测试仪	四探针电阻率测试仪 KDK-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。
	KDK-KDT红宝石探针头系列红宝石探测器红宝石探针头	红宝石探针头系列红宝石探测器红宝石探针头 1、使用几何尺寸十分精确的红宝石轴套，确保探针间距的恒定、准确。 2、控制宝石内孔与探针之间的缝隙不大于6μｍ，保证探针的小游移率。 3、采用特制的S型悬臂式弹簧，使每根探针都具有独立、准确的压力。
	KDK-KDDJ-2四探针程控电动测试架/远程电动检测设备	四探针程控电动测试架/远程电动检测设备 KDK-KDDJ-2型电动架是使用步进电机驱动，采用单板机可编程控制，操作方便，可随意调节探头的下降Z低点，上升Z高点固定，探头在Z高Z低点的停留时间范围广（从0-19秒）。硅片硅锭均可测量，普通硅锭测量高度为180mm（可按用户要求加高），测试台Z大直径200mm，不能旋转和移动。
	GSZ-RTS-9双电测四探针测试仪/四探针测试仪	双电测四探针测试仪/四探针测试仪采用了四探针双电测组合（亦称双位组合）测量新,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。
	HARTS-8四探针检测仪	四探针测试仪四探针检测仪四探针测定仪 HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。

共 47 条记录，当前 2 / 3 页首页上一页下一页末页跳转到第页

化工仪器网

中级会员

第15年

推荐收藏该企业网站