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产品图片	产品名称/型号	产品简介
	LK-ZM2000E塞曼效应实验仪 *	塞曼效应实验仪 * 同LK-ZM2000C，但去掉了面阵CCD和电视系统，只保留了目视系统，含光学测量十字线
	LK-ZM2000C塞曼效应实验仪 *	塞曼效应实验仪 * 整机0.8m长，体积小巧，磁铁1.2T，采集部分采用面阵CCD目视+电视型，分裂圆环清晰直观，目视/监视器均可观测，含光学测量十字线
	HA-JA4003N电子天平 *	电子天平 * 称量范围：0-410g Z小读数：1mg 秤盘尺寸：Φ110mm 输出接口：RS232C
	HA-JA5003N电子天平 *	电子天平 * 称量范围：0-510g Z小读数：1mg 秤盘尺寸：Φ110mm 输出接口：RS232C 外形尺寸：356mm×330mm×215mm
	LK-PSP05平台式棱镜摄谱仪 *	平台式棱镜摄谱仪棱镜摄谱仪 * LK-PSP05平台式摄谱仪是专为大学的氢氩光谱、纳光谱、汞光谱等光谱实验而的新型教学型摄谱仪，焦距长达790mm，配合线阵CCD，使分辨率远高于其它产品。采用恒偏向棱镜作色散元件，仪器各功能元件明确可见，无“黑盒子”感觉。
	HA-JA11003N电子天平 *	电子天平 * 称量范围：0-1100g Z小读数：1mg 秤盘尺寸：Φ110mm
	LK-OM99CCD密立根油滴仪 *	CCD密立根油滴仪 * 1.采用电子分划板刻度，刻度稳定，不受显示器扫描失真的影响 2.油滴象清晰明亮， 3.可做布朗运动实验（配120 电视显微镜） 4.综合参数（油滴像、刻度线、电压值、计时值）同屏显示
	HA-JA1003电子天平 *	电子天平 * 称量范围：0-100g Z小读数：1mg 秤盘尺寸：Φ80mm 输出接口：RS232C
	HA-JA2003电子天平 *	电子天平 * 称量范围：0-200g Z小读数：1mg 秤盘尺寸：Φ80mm 输出接口：RS232C
	LK-LB-FH夫兰克赫兹实验仪 *	夫兰克赫兹实验仪 * 充氩夫兰克-赫兹管（无需加热），点测谱峰（谷）数≥8，示波器观测谱峰（谷）数≥7，实验面板图示法表示，5块LED数字面板尽数显示实验参数，各参数表头独立，无需切换，清晰直观、简单便利、稳定可靠，手动、半自动实验方式齐全。
	LK-LB-PH3A光电效应（普朗克常数）实验仪 *	光电效应（普朗克常数）实验仪 * 光电管灵敏度≥1mA/Lm，暗电流≤10 -12A；零飘≤0.2%（满度读数，10 A档，预热20分种后，正常环境下30分钟内测得）；3位半LED显示，电流Z小显示10 A，电压Z小显示1mV，所以可以采用“零电流法”或“补偿法”精确测出截止电压
	LK-LB-EB3电子束（荷质比）实验仪 *	电子束（荷质比）实验仪 * 测量电子在电场、磁场中运动规律，电子荷质比和地磁分量，电子螺旋运动≥7π，电子聚焦≥3次
	LK-LB-EB4电子束（示波器）实验仪 *	电子束（示波器）实验仪 * 测量电子在电场、磁场中运动规律，示波器的原理、结构及组装，示波器的使用（配合其他仪器完成）
	LK-HT-648变温霍尔效应实验仪 *	变温霍尔效应实验仪 * 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量，进行半导体导电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。
	LK-HT218纳米微粒制备实验仪 *	纳米微粒制备实验仪 * 参照电阻加热蒸发法制备超微颗粒的原理，进行相关的金属、氧化物、高分子材料及其他材料的超微颗粒制备实验或演示。
	LK-HT188小型制冷和制冷性能实验仪 *	小型制冷和制冷性能实验仪 * 由小型制冷试验机和制冷性能实验仪两部分组成，可获得温度—时间响应特性，制冷量—温度特性，制冷系数和制冷效率并进行热过程分析。
	HA-JA5002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-510g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 Φ160mmX160mm 外形尺寸 223mmX330mmX80mm 电源 220V/50Hz
	HA-JA12002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-1200g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 160mmX160mm 外形尺寸 223mmX330mmX80mm
	HA-JA21002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-2100g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 Φ160mmX160mm
	LK-LB-SMP固体数字熔点仪 *	固体数字熔点仪数字熔点仪 * 用于观察和测量固体材料的熔化特性，进而分析判断单质材料的类型和分析判断二组分体系熔解特性并获取该组分体系的相图。真空炉透明，目视熔化过程，无烟雾等有害气体产生。恒流源、毫伏表均采用数字显示。

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