X荧光光谱仪 * 型号;HY-EDX600 HY- EDX600贵金属检测仪使用高效而实用的正比计数盒探测器,以实在的价格定位,满足贵金属的成分检测和镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩,使仪器操作更人性化、更方便。 性能特点 专业贵金属检测、镀层厚度检测。
贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰。 任意多个可选择的分析和识别模型。 相互独立的基体效应校正模型。 多变量非线性回收程序。 指标 元素分析范围:从钾(K)到铀(U)。 测量对象:固体、液体、粉末 分析检出限可达:1ppm。 分析含量一般为:1ppm到99.9%。 多次测量重复性可达:0.1%。 长期工作稳定性为:0.1%。
标准配置
单样品腔。
正比计数盒探测器。 信号检测电子电路。 高低压电源。 X光管。 应用领域 黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。 金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。 压力变送器 /变送器 型号:LP-EJA430A LP-EJA430A也可以通过BRAIN手操器或CENTUM CS/μXL或HART 275手操器相互通讯,通过它们进行设定和监控等。 LP-EJA430A压力变送器 产品指标 应用 类型 型号 膜盒 量程(MPa) 大工作压力(MPa) 压力 常规安装 LP-EJA430A A 0.03-3 3 B 0.14-14 4 |