湿海绵针孔检漏仪/针孔检漏仪 * 型号:HAD-SJ-6

整机概述： HAD-SJ-6湿海绵针孔检漏仪是一款多电压的检漏仪，它应用湿海绵测试，上满足湿海绵检漏仪的新标准——即高质量、低电压检漏仪。用于测量导电基体上500微米以下的绝缘涂层的针孔、缝隙、破损等缺陷。

性能及特点：

（1）适用检测厚度：9V ——300微米； 67.5V—500微米； 90V——500微米；（2）灵敏度：9V——90KΩ+5%； 67.5V—125KΩ+5%； 90V——400KΩ+5%；（3）电压精确度：+5%；（

4）电池：锂聚合物电池（Li-pol）11.1V/1100mA （5）消耗功率：≤0.5W；

（6）主机重量：500克

（7）尺寸：290×53×53mm （8）电压指示:三个电压分别有对应的led灯指示；（9）电池充电：专门配有12VDC锂电池恒压充电器。

（10）海绵尺寸：170×70×30mm

（11）探杆长度：195mm

（12）地线长度：4m 仪器及附件（装箱单）

 ⑴ HAD-SJ—6型湿海绵针孔检漏仪主机　　 　 1台

 ⑵ 探杆　　　　　　　　 　　　　 　 1支

 ⑶ 海绵探头 　　　　　　　　 1块

⑷ 接地线 1根

 ⑸ 充电器 1个

⑹ 塑料包装箱 1个

 ⑺ 使用说明书 1份

 ⑻ 仪器保修卡 合格证　　　 　　 1份

电线电缆半导电橡塑电阻测试仪/电阻测试仪 型号：HAD-HHY8-DB-4

HAD-HHY8-DB-4电线电缆半导电橡塑电阻测试仪是根据国家标准GB3048.3—94研究成功的测量设备，主要用于测量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻，若换上的四端子测试夹，还可以对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量

经过了十多年的实际运行，全国近百家主要电缆厂和半导电屏蔽材料厂均已采用了该仪器，它是目前全国wei一符合国家标准GB3048.3-94的测量半导电橡塑材料电阻率的仪器。

   仪器为台式结构，主要由电气箱、测试架两大部分组成，固定在工作台上，电气箱包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源，测量结果采用LED数字直接显示，测量电流输出也采用LED数字显示，从0—100mA范围内可任意调节，可达到控制测试功率损耗的规定，仪器测试架由电极、压力探头、样品台及电动传动机构组成，操作按键电钮，可进行半自动测量。

   仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，符合和国家标准的要求。

   仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等，对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测，是必需的测试设备。

   仪器主要指标：                                                            

一、 测量范围：10^-4--10³Ω-cm可扩展到10⁵Ω-cm；分辩率10^-6Ω-cm

二、 数字电压表：

1．  量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V

2．  测量误差  0.2mA档±(0.5%读数+8字)；2mV—2V挡±(0.5%读数+2字)

3．  显示3 1/2 位数字显示0—1999具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示。

三、 恒流源：

1．  电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给，数字显示

2．  量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

3．  电流误差：±(0.5%读数+2字)

四、 测量电极：

1．  电流电极：宽度50mm,与试样的接触宽度5mm，两个电流电极间的距离110mm

2．  电位电极：宽度50mm，接触半径，两个电位电极间的距离20mm±2%

  五、电源：220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

六、外形尺寸（包括测试工作台）1200×600×1050mm（长×宽×高)

二探针单晶硅及多晶硅测试仪　型号：HAD-HHY8-GL-1

本仪器主要用于测量大直径的单晶硅和多晶硅的电阻率分布情况，以便硅材料的切割和加工。

    为适应大规模集成电路的迅猛发展，特别是计算机芯片、内存的发展，越来越多的使用到了大直径、高纯度、均匀度更高的单晶硅材料。目前，在美国、德国等的工业国家，均采用了二探针法，使用二探针检测仪来测量大直径单晶硅的电阻率分布情况。

仪器符合美国ASTM 《“F391-77”关于二探针测量硅单晶试验方法》的标准，是一种新型的半导体电阻率测试仪，适合半导体材料厂和器件厂用于二探针法精确测量单晶硅和多晶硅半导体棒状材料的体电阻率，从而进一步判断半导体材料的性能，指导和监视工艺操作，也可以用来测量金属材料的电阻，仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便、造型美观等特点。也可以配四探针测试头作常规的四探针法测量硅晶体材料。

    仪器分为仪表电气控制箱、测试台、探头三部分，仪表电气控制箱由高灵敏度直流数字电压表、高抗干扰高隔离性能的电源变换装置、高稳定高精度恒流源和电气控制部分组成。测量结果由大型LED数字显示，零位稳定、输入阻抗高，并设有自校功能。在棒状材料使用二探针法测试时，具有系数修正功能，从面板输入相应的修正系数，可以直接读出电阻率，使用方便。测试台结构新颖，造型美观，可以方便地固定好大小任意尺寸的样品，并可以作逐点选择步进测量，也可以自由选择固定位置测量，电极活动自如，具备锁定装置，方便重复测量。另外还配置了二处记录板和转椅，测试探头能自动升降，探针为碳化钨材料，配置宝石轴承，具有测量精度高、游移率小、耐磨、使用寿命长特点。同时探头压力恒定并且可调整，以适合不同的材料。

仪器主要指标：

1.可测硅材料尺寸：

     直径Φ25~Φ150mm满足ASTM F-397的要求。

     长度：100~1100mm.

2.测量方式：轴向测量，每隔10mm测量一点。

3.测量电阻率范围：10^-3~10³Ω-cm,可扩展到10⁵Ω-cm。

4.数字电压表：

    （1）量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

    （2）测量误差：±0.3%读数±2字

    （3）输入阻抗：0.2mV和2mV档>10⁶Ω

                  20mV档及以上>10⁸Ω

    （4）显    示：3^1/2位LED数字显示，范围0~1999。

5.恒流源：

    （1）电流输出：直流电流0~100mA连续可调。

    （2）量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

    （3）电流误差：±0.3%读数±2字

6.二探针测试装置：

    （1）探针间距：4.77mm

    （2）探针机械游移率：0.3%

    （3）探针压力：0~2kg可调

    （4）测试探头自动升降

7.二探针测试台

    （1）测试硅单长度：100-1100mm

    （2）测试点间距：10mm

    （3）测试台有慢、快二种移动速度，快速移动速度为1000mm/分（均匀

手动）

8.电源：交流220V±10%，50HZ±2HZ，消耗功率<150W

数字式四探针测试仪/四探针测试仪/数字式四探针检测仪　型号：HAD-HHY8-SZT-2000

HAD-HHY8-SZT-2000型数字式四探针测试仪是根据四探针测试原理研究成功的多用途的综合测量装置，它可以测量棒状、块状

半导体材料的电阻率和半导体扩散层的薄层电阻进行测量，可以从10^-6--10⁵Ω—cm全量程范围检测硅的片状、棒状材料的电阻、薄层电阻，是硅材料质量监测的必需仪器。

仪器为台式结构，分为电气箱、测试架两大部分，用户可以根据测试需要安放在一般工作台或者工作台上，测试架由探头及压力传动机构、样品架组成，耐磨和使用寿命长的特点。探头内设有弹簧压力装置，压力从0—2Kg连续可调，测试架设有手动和电动两种装置供用户选购。

仪器电气箱主要由高灵敏的直流数字电压表和高稳定的恒流源组成，测量结果由数字直接显示，仪器有自校量程，可以方便地对仪器的电气性能进行校验。

仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、测量范围广、结构紧凑、使用方便等特点，仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科学研究、高等院校，对半导体材料的电阻性能测试及工艺检测。

仪器主要指标：

1．  范围：电阻率10^-4—10³Ω—cm，可扩展至10⁵Ω—cm，分辩率为10^-6Ω—cm

         方块电阻10^-3—10³Ω /□

         电阻10^-6—10⁵Ω

2．  可测半导体尺寸：直径Φ15—150mm

3．  测量方式：轴向、断面均可（手动测试架）

4．  数字电压表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)测量误差 0.2mV档±（0.3%读数+8字）

              2 mV档以上±（0.3%读数+2字）

  (3)输入阻抗0.2mV、2mV挡10⁵Ω

              20mV档以上>10⁸Ω

  (4)显示3 1/2位数字显示，0—1999

具有极性和过载自动显示，小数点、单位自动显示

5．  恒流源：（1）电流输出：直流电流0—100mA连续可调，由交流电源供给

   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五档

   （3）电流误差：±（0.3%读数+2字）

6．四探针测试探头  （1）探头间距：1mm   (2)探针机械游率：±0.3%

                   (3) 探针：Φ0.5mm    (4)压力：可调

  7. 测试架：

  （1）手动测试架：探头上升及下降由手动操作，可以用作轴向和断面的单晶棒和硅片测试。

  （2）电动测试架：探头的上升和下降由电动操作，设有自动控制器控制，探头上升时间1S—99S可调，探头下降时间1S—99S可调，压力恒定可调（由砝码来设定）同时设有脚踏控制装置由脚踏开关控制探头上下运动。

   8.电流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W

9．    外形尺寸：电气箱130×110×400mm

半导体电阻率测试仪/电阻率测试仪/半导体电阻率测定仪(含探头和测试架）　型号：HAD-HHY8-BD-86A

HAD-HHY8-BD-86A型半导体电阻率测试仪是我厂推出的的普及型半导体电阻率测试仪器，本仪器是根据四探针原理，适合半导体器材厂，材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率，方块电阻（簿层电阻），也可以用作测量金属薄层电阻，经过对用户、半导体厂测试的调查，根据美国ASTM标准的规定，在电路和探头方面作了重大的修改和上的许多突破，它更适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、高阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要，成为普及型的电阻率测试仪，具有测量精度高，稳定性好，输入阻抗高，使用方便、价格低廉等特点。

   仪器主要指标：

1．  测量范围：电阻率10^-3—10³Ω-cm，分辩率为 10^-4Ω-cm ，可扩展到10⁵Ω-cm

  方块电阻10^-2—10⁴Ω/□，分辩率为10^-3Ω/□，可扩展到10⁶Ω/□

薄层金属电阻10^-4—10⁵Ω，分辩率为10^-4Ω

2.可测半导体材料尺寸：直径Φ15—Φ125mm；  长度：150mm(可扩展500mm)

     3.测量方式：轴向、断面均可

4．数字电压表：（1）量程：20mV(分辩率：10μV)、200mV、2V

             （2）测量误差：±0.3%读数±1字

             （3）输入阻抗：大于10⁸Ω

             （4）显示3 1/2 位红色发光二极管（LED）数字显示

                  0---1999具有极性、过载、小数点、单位自动显示

5．恒流源：由交流供电，具有良好的防泄漏隔离功能

（1）       直流电流：0—100mA连续可调

（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

（3）       分辩率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

（4）       电流误差：±0.3%读数±2字

6．电性能模拟考核误差：<±0.3%符合ASTM指标

7．测试探头：（1）探针机械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指标

8．电源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W

9．电气箱外形尺寸：119×440×320mm