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半导体中空玻璃露点仪 中空玻璃露点仪
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产品型号:
HAD-ZK-I
产品名称:
半导体中空玻璃露点仪 中空玻璃露点仪
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产品特点:
半导体中空玻璃露点仪 中空玻璃露点仪
露点仪是根据中华人民共和国国定标准GB/T11944-2002《中空玻璃》研制的中空玻璃的检测仪器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露点检测。广泛用于玻璃深加工企业的质量控制和各级质量监督检测。
  HAD-ZK-I半导体中空玻璃露点仪 中空玻璃露点仪 的详细资料:

半导体中空玻璃露点仪 中空玻璃露点仪    型号:HAD-ZK-I

 

 

一、 用途

露点仪是根据中华人民共和国国定标准GB/T11944-2002《中空玻璃》研制的中空玻璃的检测仪器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露点检测。广泛用于玻璃深加工企业的质量控制和各级质量监督检测。

二、 仪器结构与工作原理

本仪器由低温测试头和制冷机组组成,通过测试头和被检测样品的紧密接触,使样品表面局部冷却,当达到一定温度后,内部水气在冷点部分结露或结霜。露点仪主要检测样品在某一温度下是否结露或结霜。

三、 规格及主要参数

1、低温测试头表面直径:50mm。

2、测温范围:-60-0℃       准确度:0.5%

3、工作电压:220伏

4、使用环境:温度0-50℃       

四、设备清单

  1.制冷主机                                1套

  2.低温测试头                              1个

  3.真空吸盘                                1个

  4.产品合格证                              1份

  5.产品说明书                              1份

 

 

 

 

 

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