高频光电导少子寿命测试仪/少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-1

高频光电导少子寿命测试仪用途

用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

组成

1.光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s      脉宽＞60μｓ          光脉冲关断时间＜0.2-1μｓ

红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）   脉冲电流：5A～20A

如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.高频源

频率：30MHz       低输出阻抗      输出功率＞1W

3.放大器和检波器

频率响应：2Hz～2MHz

4.配用示波器

配用示波器：频带宽度不低于40MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。

测量范围

KDK-LT-1可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥3Ω·㎝（欧姆·厘米）,寿命值的测量范围：5～6000μｓ

北京恒奥德科技有限公司  

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