方块电阻测试仪/电阻测试仪 型号：GSZ-SRM-232-100 GSZ-SRM-232型方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
GSZ-SRM-232型方块电阻测试仪根据不同的测量范围分成以下四种型号：GSZ-SRM-232-10、GSZ-SRM-232-100、GSZ-SRM-232-1000、GSZ-SRM-232-2000； | | | | ◆ 特点： | | | 1 | 轻便手持式 | 2 | 127个数据测试点保存 | 3 | 通过RS-232与电脑通讯 |
| | | | ◆ 指标： | | | GSZ-SRM-232-10 | 测量范围： 0.000～9.999(Ω/□)
分辨率：0.004(Ω/□) | GSZ-SRM-232-100 | 测量范围：00.00～95.00(Ω/□)
分辨率：0.04(Ω/□) | GSZ-SRM-232-1000 | 测量范围0～1000(Ω/□)
分辨率：0.4(Ω/□) | GSZ-SRM-232-2000 | 测量范围：0～2000(Ω/□)
分辨率：0.8(Ω/□) |
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