闪频测速仪/便携式测速仪 型号：XB-DT2239B

采用微型计算机(CPU)、光电。
抗干扰等实现非接触转速
测量，以及检测运动物体的状态和表面
缺损。
超大屏幕液晶显示带背光
数字控制调整闪频频率
电源消耗低
测量范围：60~19,999RPM
粗调/细调幅度：
<1,000RPM 粗调 ±10RPM
细调 ±0.1RPM
≥1,000RPM 粗调 ±100RPM
细调 ±1RPM
准确度：±0.05%
分辨率：<1,000RPM：0.1RPM
≥1,000RPM：1RPM
电源：4x1.5V AA电池

半导体电阻率测试仪/电阻率测试仪/半导体电阻率测定仪(含探头和测试架）　型号：HAD-HHY8-BD-86A

HAD-HHY8-BD-86A型半导体电阻率测试仪是我厂推出的的普及型半导体电阻率测试仪器，本仪器是根据四探针原理，适合半导体器材厂，材料厂用于测量半导体材料（片状、棒状）的体电阻率，方块电阻（簿层电阻），也可以用作测量金属薄层电阻，经过对用户、半导体厂测试的调查，根据美国ASTM标准的规定，在电路和探头方面作了重大的修改和上的许多突破，它更适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、高阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要，成为普及型的电阻率测试仪，具有测量精度高，稳定性好，输入阻抗高，使用方便、价格低廉等特点。

   仪器主要指标：

1．  测量范围：电阻率10^-3—10³Ω-cm，分辩率为 10^-4Ω-cm ，可扩展到10⁵Ω-cm

  方块电阻10^-2—10⁴Ω/□，分辩率为10^-3Ω/□，可扩展到10⁶Ω/□

薄层金属电阻10^-4—10⁵Ω，分辩率为10^-4Ω

2.可测半导体材料尺寸：直径Φ15—Φ125mm；  长度：150mm(可扩展500mm)

     3.测量方式：轴向、断面均可

4．数字电压表：（1）量程：20mV(分辩率：10μV)、200mV、2V

             （2）测量误差：±0.3%读数±1字

             （3）输入阻抗：大于10⁸Ω

             （4）显示3 1/2 位红色发光二极管（LED）数字显示

                  0---1999具有极性、过载、小数点、单位自动显示

5．恒流源：由交流供电，具有良好的防泄漏隔离功能

（1）       直流电流：0—100mA连续可调

（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

（3）       分辩率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

（4）       电流误差：±0.3%读数±2字

6．电性能模拟考核误差：<±0.3%符合ASTM指标

7．测试探头：（1）探针机械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指标

8．电源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W

9．电气箱外形尺寸：119×440×320mm

一  产品说明

电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。

三、 产品特点

1 仪器采用 220V 交流电源供电。

2 同时检测硅半导体材料的电阻率和型号两项指标。

3 拥有较高的电阻率测试分辨率，小可到 0.001 欧姆.厘米。

4 能精确的分辨电阻率在 0.002 欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号。

5 独立的 P/N 型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料。

6 适中的体积和便携性。

7 简单的操作，快速的测试。

8 低廉的价格，很高的性价比。

四、 参数指标

1 供电电源 220V±10% 50Hz AC

2 功耗<1w

3 主机尺寸 155×120×50mm

2 电阻率测试范围 0.001~50 欧姆.厘米

3 电阻率测试精度 ±5%±2LSB

半导体粉末电阻率测试仪/粉末电阻率测试仪 型号：HAD-HHY8-FZ-2006

本仪器是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关标准的。 仪器的电流输出为 10 µA - 100 mA ，电阻率测试范围为 10 -2 - 10 5Ω cm ，直接采用数字显示。仪器的可靠性和稳定性大大增强，更方便于用户， 而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属进行电阻、电阻率多用途的测量。 

　　适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量, 也可以测量固体半导体材料，特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制. 电阻率值直接数字显示由具有高精度加压系统, 高度测量的测试台和仪器组成.

　　仪器主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器， 加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。本仪器具有测量精度高，稳定性好，重复性好，使用方便等特点， 并有自校功能。

　　本仪器采用通用的电流-电压降法即四端子测量法，可以消除电极与粉末接触产生的接触电阻误差，还可以消除联接系统所带来的误差， 克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，真实、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。

　　本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的一种重要工具。

主要指标：

1. 测量范围：

· 电阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω

· 电阻率 10-4 - 105 Ω.cm，分辨率 10-4 Ω.cm

测量误差 ±（0.3% 读数 + 2 字）

2. 测量电压量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
测量精度: ±（0.3% 读数 + 2 字）

3. 测量电流：0 - 100 mA 连续可调，
电流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA

4. 试样粒度：40 目以下 - 60 目以上（标准筛网）纳米粉末

5. 试样容器：内腔Φ16.30 ± 0.1mm

6. 试样高度：16mm ± 0.5mm 
测量误差：±0.1mm

7. 取样压力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
压力量程：0 - 100 kg 可调

8. 显示方式: 电阻、电阻率、压力为 3 1/2 数字显示,并自动显示单位和小数点

9. 电源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗

10. 外形尺寸电气箱：440mm×120mm×320mm

11. 备有粉末测试架和固态标准样品测试台供选

1.电气箱一台  FZ-2006A（主机）

2.测试架一台  FZ-2010

3.使用说明书一份

4.电源线二根 

5.合格证一份

6.四端子测试线一根

7.电源线二根

微型高速粉碎机 粉碎机 粉碎机 型号：HAD-HB-WWFS-Ⅱ

该机可用于破碎煤炭、焦炭、矿物质、土壤、砂、石和植物种子。适用于煤炭、焦化

、地质、医药卫生、农业、工业的科研单位和化验制样室制取少量试样用。

二、主要指标

转子转速：210000r/min

入料粒度：-6mm

出料粒度：≤60-120

每次入料量：≤50g

粉碎时间：3-5秒

电源：220V 50HZ

三、该产品特点

1、转速高：≥10000转/分

2、效率高：50g物料仅需要3-5秒便可完成粉碎，即简便又快速。

3、密封性好；工作中没有被粉碎的物料泄漏，使工作环境保持清洁。

4、性能稳定：可连续工作，使用寿命长。