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闪烁γ测井仪 (数字传输型)   厂家
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产品型号:
HY-FD-3019
产品名称:
闪烁γ测井仪 (数字传输型) 厂家
产品报价:
产品特点:
闪烁γ测井仪 (数字传输型) 厂家
HY-FD-3019改进型闪烁γ测井仪主要对操作台进行改进,除保留原功能外,增加了数据储存等功能。探管除电压由操作台供电,其他方法等保持不变(符合核工业γ测井仪规范。操作台采用微计算机电路。
  HY-FD-3019闪烁γ测井仪 (数字传输型) 厂家的详细资料:

闪烁γ测井仪 厂家 型号:HY-FD-3019

HY-FD-3019改进型闪烁γ测井仪主要对操作台进行改进,除保留原功能外,增加了数据储存等功能。探管除电压由操作台供电,其他方法等保持不变(符合核工业γ测井仪规范。操作台采用微计算机电路。整套仪器集成度高,操作简单。可以配置电脑及测井专用数据处理程序,现场获取结果。仪器主要用于地面钻孔中的放射性γ强度测量。确定铀矿床的矿石品位。也可用于放射性方法测量地下水情等。

主要技术性能

1、测量范围:本底~20000-6(2%铀当量)大达4%铀当量。

2、灵敏度:262±12S-1/100×10-6(在标准饱和模型中)。

3、精度:仪器读数以置信度为99%;一次读数均方差为≤±5%。

4、含量线性:100×10-6~20000×10-6相对误差≤±5%。

5、使用环境:探棒-10℃~+60℃。操作台-10℃~+45℃。

湿度(66±15%)相比极限条件下的附加误差≤10% 。

6、测井深度:仪器可以根据用户需要匹配1000m之内不同长度的电缆。

7、仪器采用微计算机电路,背光液晶显示,触摸键操作。可预制系数,读数ppm、cps,数据储存2000个。有标准接口可与计算机相联。

8、供电:操作台采用12v充电电池;探棒由操作台3节充电电池 供电,可连续工作24小时。

9、仪器根据需要可配FD-61K轻便绞车作地面深井测量。

10、尺寸及重量:操作台:300×200×210mm, 探棒:φ40×755mm 。

:HY-FD-3019改进型闪烁γ测井仪(系统)有主机、探管还包括手提电脑、γ测井数据处理专用软件.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

便携式悬浮物测试仪  型号 HAD-SS-2A

 

一、产品概述

    适用于大、中、小型水厂及工矿企业、生活或工业用水的悬浮物浓度检测,以便控制水的悬浮物达到规定的水质标准。

 

二、产品原理:

本仪器应用微电脑光电子比色检测原理取代传统的目视比色法。消除了人为误差,因此测量分辨率大大提高。

技术参数 

测量范围

0-1000mg/L

最小示值

0.01mg/L

重复性

≤2%

精度

±5%FS±1个字

充电器

AC 220V 50Hz

 

.特点: 
1.全中文菜单、微电脑,轻触式键盘,LCD液晶数字清晰显示,使用方便。
2.采用分光光度的光电比色原理,水样放入仪器后即可读数,数字显示测定值。
3.本公司特制的技术LED光源自动控制电路,光源稳定,解决了开机必须预热问题。其光源寿命长达20年,开机时无需预热,可直接使用。 
4.主机内置打印机及大功率电池,可用于野外现场定量测量,充电4小时可连续使用4小时,即充即用。 
5.仪器内存储有全量程范围内的标定曲线 ,具有断电保护,标定数据不会丢失。可自动调零和5点自动校正,数据有非线性处理及数据平滑功能,仪表最小读数为0.01mg/L。
6.融合多项自主设计成果,技术先进,符合国标《重量法》。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

    悬浮物测定仪 台式悬浮物测试仪 型号  HAD-LSS-200

技术指标
       1. 测量范围:0-1000mg/L (含0-100和100-1000两个量程)

   2. 示值误差:≤± 2% (F.S) ±1个字

   3. 重现性  :≤ ± 2 % 

   4. 最小分辨率:0.01 mg/L
   5. 每小时漂移:< 0.1 mg/L
   6. 外形尺寸:266×200×130mm
   7. 重量:1kg 

   8. 仪器在开机通电半小时后可在下列环境下连续运行:
      ⑴环境温度: 5~40℃     ⑵相对湿度: ≤70%
      ⑶供电电源: AC(220±10%)V; 50Hz
      ⑷避免强光直接照射,无显著的振动及强电磁干扰 

仪器特点

       1、利用进口高性能、长寿命(10万小时)、高亮度光源,配以窄带滤光系统,

         光学稳定性极强,不易受到各种光的干扰,因而仪器精度高、稳定性好。         

      2、大屏幕LCD中文显示,中文菜单操作,简便、直观。

      3、可保存标准曲线10条及500个测定值,断电不丢失。

      4、主机机壳采用模后ABS材料,防腐蚀性好。

      5、采用高性能、低功耗16位单片机系统,性能。

配置清单

      主机1台、电源线一根、比色皿2只,使用说明书1份,产品合格证1份及保修卡1份。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品名称:便携式粉尘检测仪 便携式激光粉尘检测仪

产品型号:HAD-JCF-5C

1. 

产品介绍

2. 

HAD-JCF-5C便携式激光粉尘检测仪是新一代粉尘浓度检测仪器,可实时快速测量空气中不同粒径的颗粒物浓度。聚创环保仪器符合工业企业卫生标准(GBZ1-2002)、工作场所有害因素接触限值(GBZ2-2002)标准、卫生部WS/T206-2001《公共场所空气中可吸入颗粒物(PM10)测定法-光散射法》标准、劳动部LD98-1996《空气中粉尘浓度的光散射式测定法》标准以及卫生部卫监督发〔2006〕58号文件颁布实施的《公共场所集中空调通风系统卫生规范》。

JCF-5C便携式激光粉尘检测仪可广泛应用于疾病控制中心、卫生监督、环境监测、各生产制造企业等部门对环境中PM2.5、可吸入颗粒物进行快速监测。适用于公共场所、中央空调排气口可吸入颗粒物浓度的快速测定,以及用于空气净化器净化效率评价等。
二、产品参数
1、★测量原理:激光散射,佩戴切割器
2、★测量粒径:同时检测并显示PM2.5、PM10、TSP浓度,可根据用户要求定制其他粒径
3、测量范围:PM2.5、PM10测量范围0.001~10 mg/m³;TSP测量范围0.001~100 mg/m³;根据用户要求定制其他测量范围
4、测量灵敏度:0.001mg/m³
5、采样时间:标准时间为1分钟,用户可根据自己的实际需求自由设定
6、电源:220VAC/12VDC 电源适配器、可充电电池组
7、★连续测量:可自行设定间隔时间并进行连续测量

8、★零值校准:仪器可对零点误差进行校准。

9、★K值设定:可根据用户的需求调节K 值,出厂调试默认K值。

10、数据处理:可连接电脑,可连接打印机,打印机为选配件

11、★购买仪器可赠送检定报告复印件一份。

三、产品特点
1、人体工程学设计,轻便小巧,便于携带
2、仪器内置实时时钟,测量数据和时间一一对应,方便用户查看和使用数据
3、一机多用,可同时测量并显示PM2.5、PM10和TSP的浓度
4、测量时间可自由设置,便于满足不同种类用户不同场地的测量需求
5、大容量存储空间,便于测量数据的存储和查看
6、★佩戴数据处理专用软件,便于用户的统计与分析
7、内置电池,交直流两用,使用更加便捷

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品名称:薄膜测厚仪 测厚仪 

产品型号:HAD-SGC-10

仪器介绍

HAD-SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是我公司与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关键部件均为国外进口,也可根据客户需要整机进口。

   

- 强大的软件功能

界面友好,操作简便,用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大,可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。

 

 

 

 

- 产品功能适用性

该仪器适用于多种介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。

 

- 典型的薄膜材料为

SiO2、CaF2、MgF、光刻胶、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亚胺、高分子膜。

 

- 典型的基底材料为

SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、铝丙烯酸、蓝宝石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。

 

仪器具有开放性设计,仪器的光纤探头可很方便地取出,通过仪器附带的光纤适配器(如图所示)连接到带C-mount适用于微区(>10μm,与显微镜放大率有关)薄膜厚度的显微镜(显微镜需另配),就可以使本测量仪测量。

 


基本配置及参数

产品名称:薄膜测厚仪 测厚仪 
货  号:29204
产品型号:HAD-SGC-10
仪器介绍

HAD-SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是我公司与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关键部件均为国外进口,也可根据客户需要整机进口。

   

 

- 强大的软件功能

界面友好,操作简便,用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大,可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。

 

 

 

 

 

- 产品功能适用性

该仪器适用于多种介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。

 

 

 

- 典型的薄膜材料为

SiO2、CaF2、MgF、光刻胶、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亚胺、高分子膜。

 

 

 

- 典型的基底材料为

SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、铝丙烯酸、蓝宝石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。

 

仪器具有开放性设计,仪器的光纤探头可很方便地取出,通过仪器附带的光纤适配器(如图所示)连接到带C-mount适用于微区(>10μm,与显微镜放大率有关)薄膜厚度的显微镜(显微镜需另配),就可以使本测量仪测量。

 


基本配置及参数

产品相关关键字: 闪烁γ测井仪 测井仪
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