日照计/暗筒式日照计/8235日照计 型号：HA8-FJ-1 HA8-FJ-1型暗筒式日照计用以观测阳光照射的起迄时间及统计日照时数。可供各中、小学校
开展课外气象观测活动的教学配备。 参数： 1、日照记录时间：上午五时～下午十九时2、纬度使用范围：0°～60°3、精度：各真太阳时，时钟时间与日照记录时间的误差不超过±3分钟 磁性测厚仪型号：HAD-TX-TD300 HAD-TX-TD300型磁性测厚仪是一种小型便携式仪器，磁性测厚仪也称涂层测厚仪、镀层测厚仪、涂镀层测厚仪。其性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，符合国家标准GB/T4957，多次通过国家监督的性能试验，获得计量器具许可证。 膜厚校正片
﹡ 膜厚校正片是仪器的计量基准。HAD-TX-TD300磁性测厚仪的膜厚校正片全部经过
监督的检测，附有检测报告。这一点在仪器中都是不多见的。它保
证了仪器计量的准确性和可靠性。 探头
﹡ 测厚仪容易损坏的部件是探头，本公司的HAD-TX-TD300磁性测厚仪对探头做了
的耐久性，具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。 探头线
﹡ 由于涂镀层测厚仪使用频率很高，探头线成为易损件。一般国产仪器的探头用
不多久就会出现故障，多数问题出在探头线上。
天星磁性测厚仪使用的探头线是在日本定做的。这种导线初用于机器人，规定可
经受几百万次的曲折。实践证明，这种探头线很少有因频繁曲折而损坏的。 涡流测厚仪 型号:HAD-TX-ED400 HAD-TX-ED400型涡流测厚仪是HAD-TX-ED300型测厚仪的改进型，仪器性能大幅度提高。
仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
仪器适于在现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查， 可用于检验、验收检验和质量监督检验。
仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。
仪器特点
HAD-TX-ED400型涡流测厚仪与HAD-TX-ED300型相比，具有如下特点：
＊量程宽 HAD-TX-ED400型的量程达到0～500μm。
＊精度高 HAD-TX-ED400型的测量精度达到2%。
＊分辨率高 HAD-TX-ED400型的分辨率达到0.1μm。
＊校正简便 只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内保证精度。
＊基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量
误差不大于1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性
提高。
＊稳定性提高 采用的温度补偿，测量值随环境温度的变化很小。仪器
校正一次可在现场长期使用。
＊探头线寿命长 采用德国进口的，在德国测厚仪上使用的探头线，探头线寿命
可大大延长。
＊探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料，微调了探头，探头芯寿命可大大延
长。
＊探头可互换 外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无
需返厂维修。 测量范围： 0～500μm
测量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可选）
使用温度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g 涡流测厚仪/便携式涡流测厚仪 型号：HAD-TX-ED300 HAD-TX-ED300型涡流测厚仪是一种小型便携式仪器。性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流法》。仪器多次通过国家计量的性能试验，获得计量器具许可证。 HAD-TX-ED300型涡流测厚仪，用于测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度。
仪器适于在现场、销售现场或施工现场对产品进行快速无损的膜厚检查。可用于检验、验收检验和质量监督检验。
仪器在国内铝型材、铝门窗、监督、工程质检等行业得到广泛应用，得到用户的广泛信任与好评。
仪器特点
﹡校正箔片 作为仪器的计量基准，校正箔片经过国家计量检测，附有检测
报告。
﹡探头 对容易受损的探头做了耐久性，具有防磕碰、防水等防护功能。
﹡探头线 日本进口的探头线使用寿命较长。
﹡仪器防护套 结实的透明塑料仪器套，可保护仪器免受损伤和污染。
﹡经久耐用 HAD-TX-ED300型测厚仪对于恶劣的使用环境，频繁的测量操作适应性较
强。在铝型材行业十几年的使用证明，它是一种性能优良、可靠实用的仪器 测量范围： 0～150μm
测量精度： ±3%
分 辨 率： 0.1μm
功 耗： 0.06W
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 280g 标准配置 主机 1台
探头 1支
基体 1块（6063合金）
校正箔片 1套4片（附检测报告）
使用说明书 1份
合格证 1份
保修单 1份
手提式仪器箱 1个 可调温露点仪/露点仪/在中空玻璃点仪 型号：HAD-ZJZ-TW-25 1.用途： HAD-ZJZ-TW-25型可调温露点仪为符合美国ASTM E546和E576标准的中空玻璃露点检测设备。该设备为便携型的检测中空玻璃露点的设备，可对水平放置或垂直放置的样品进行测量。HAD-ZJZ-TW-25型可调温露点仪具有冷阱温度调节范围大、温度调节梯度小、冷容量大（规定试验时间内温度波动小）、冷散失量小、试验成本低等特点,在中空玻璃、科研院所、检测中心及建筑工程上已得到了广泛的应用。 ２.主要指标: - 冷阱有效直径：Φ25.4mm;
- 干冰筒容积：Φ75×145mm；
- 温度调节范围：-10至-60℃；
- 温度调节梯度：≤±2℃；
- 温度波动量：±2℃；
- 温度调节指示表（百分表）准确性≤±10μm；
- 数显温度计指示准确性≤±1℃；
- 试验方式：水平样品或垂直样品；
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