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小型全自动氢气站  厂家
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产品型号:
ZPH-GCD-9000
产品名称:
小型全自动氢气站 厂家
产品报价:
产品特点:
小型全自动氢气站/全自动氢气站 厂家
氢气纯度:99.999%
氢气流量:0-9000ml/min
工作压力:0.4MPa
消耗功率:2KW
  ZPH-GCD-9000小型全自动氢气站 厂家的详细资料:

小型全自动氢气站/全自动氢气站 厂家 型号:ZPH-GCD-9000

技术参数:

氢气纯度:99.999%
氢气流量:0-9000ml/min
工作压力:0.4MPa
消耗功率:2KW
外形尺寸:主机 420×355×770(mm) ×3台
                    辅助电源 420×355×370(mm)
净     重:约140Kg

特点:

安全可靠,自动流量跟踪,双级过滤,内有微量氧脱除剂(不需活化),仪器内部采用硅橡胶圈(含硫量低),有效提高气体质量,保证色谱基线平稳,自动防返碱。 用于中心实验室集中供氢 可用于石化、半导体等行业

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品名称:便携式粉尘检测仪 便携式激光粉尘检测仪

产品型号:HAD-JCF-5C
  1. 产品介绍

HAD-JCF-5C便携式激光粉尘检测仪是新一代粉尘浓度检测仪器,可实时快速测量空气中不同粒径的颗粒物浓度。聚创环保仪器符合工业企业卫生标准(GBZ1-2002)、工作场所有害因素接触限值(GBZ2-2002)标准、卫生部WS/T206-2001《公共场所空气中可吸入颗粒物(PM10)测定法-光散射法》标准、劳动部LD98-1996《空气中粉尘浓度的光散射式测定法》标准以及卫生部卫监督发〔2006〕58号文件颁布实施的《公共场所集中空调通风系统卫生规范》。

JCF-5C便携式激光粉尘检测仪可广泛应用于疾病控制中心、卫生监督、环境监测、各生产制造企业等部门对环境中PM2.5、可吸入颗粒物进行快速监测。适用于公共场所、中央空调排气口可吸入颗粒物浓度的快速测定,以及用于空气净化器净化效率评价等。
二、产品参数
1、★测量原理:激光散射,佩戴切割器
2、★测量粒径:同时检测并显示PM2.5、PM10、TSP浓度,可根据用户要求定制其他粒径
3、测量范围:PM2.5、PM10测量范围0.001~10 mg/m³;TSP测量范围0.001~100 mg/m³;根据用户要求定制其他测量范围
4、测量灵敏度:0.001mg/m³
5、采样时间:标准时间为1分钟,用户可根据自己的实际需求自由设定
6、电源:220VAC/12VDC 电源适配器、可充电电池组
7、★连续测量:可自行设定间隔时间并进行连续测量

8、★零值校准:仪器可对零点误差进行校准。

9、★K值设定:可根据用户的需求调节K 值,出厂调试默认K值。

10、数据处理:可连接电脑,可连接打印机,打印机为选配件

11、★购买仪器可赠送检定报告复印件一份。

三、产品特点
1、人体工程学设计,轻便小巧,便于携带
2、仪器内置实时时钟,测量数据和时间一一对应,方便用户查看和使用数据
3、一机多用,可同时测量并显示PM2.5、PM10和TSP的浓度
4、测量时间可自由设置,便于满足不同种类用户不同场地的测量需求
5、大容量存储空间,便于测量数据的存储和查看
6、★佩戴数据处理专用软件,便于用户的统计与分析
7、内置电池,交直流两用,使用更加便捷

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

产品名称:薄膜测厚仪 测厚仪 
货  号:29204
产品型号:HAD-SGC-10
仪器介绍

HAD-SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是我公司与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关键部件均为国外进口,也可根据客户需要整机进口。

   

 

- 强大的软件功能

界面友好,操作简便,用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大,可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。

 

 

 

 

 

- 产品功能适用性

该仪器适用于多种介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。

 

 

 

- 典型的薄膜材料为

SiO2、CaF2、MgF、光刻胶、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亚胺、高分子膜。

 

 

 

- 典型的基底材料为

SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、铝丙烯酸、蓝宝石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。

 

仪器具有开放性设计,仪器的光纤探头可很方便地取出,通过仪器附带的光纤适配器(如图所示)连接到带C-mount适用于微区(>10μm,与显微镜放大率有关)薄膜厚度的显微镜(显微镜需另配),就可以使本测量仪测量。

 


基本配置及参数

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

在线二氧化氯检测仪 二氧化氯测试仪  型号:HAD-CL8136H

 

在线二氧化氯是带微处理器的水质在线监测控制仪。该仪表广泛用于饮用水处理厂、饮用水分布网、游泳池、水质处理工程、污水处理、水质消毒(二氧化氯发生器配套)等各个行业过程,对水溶液中的二氧化氯值进行连续监测和控制。

 

仪表特点

  • LCD 大屏液晶显示

● /英文智能菜单操作

  • 多种自动标定功能

  • 多种信号输出方式可选

  • 两组继电器控制开关

  • 高限、低限、迟滞量控制

  • 同一界面显示二氧化氯值和状态等

  • 设有密码保护防止非工作人员误操作

技术参数:

  1. 测量范围:

二氧化氯:0~20.00mg/L(ppm 度:0~50.0℃(选配

  1. 分辨率:

氧化氯:0.001mg/L; 温 度:0.1℃;

  1. 基本误差:

二氧化氯:±1%F.S;  :±0.3℃;

  1. 响应时间:90%少于 90 秒;

  2. 电流输出(标配 1 路,可选配 2 路 0/4~20mA(负载电阻<750Ω);

20~4mA(负载电阻<750Ω);

  1. 通讯输出:RS485 MODBUS RTU(选配

  2. 两组继电器控制触点: 10A 250VAC,10A 30VDC;

  3. 供电电源(选配: 85~265VAC±10%,50±1Hz,功率≤3W;

9~36VDC,功率:≤3W;

(9)外型尺寸:96×96×130mm;

  1. 安装方式:盘装(嵌入式安装开孔尺寸:91×91mm;

  2. 防护等级:IP54;

(12)重量:0.5kg;

(13)工作环境:

环境温度:-10~60℃; 相对湿度:不大于 90%;

除地球磁场外周围无强磁场干扰。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

经济型超纯水机       超纯水机   HAD-UPT-I-10T

产品介绍:

经济型超纯水机HAD-UPT-I-10T经济型超纯水机设计精简,可直接将自来水纯化为符合国标GB6682-92的实验室级纯水和超纯水,全自动“傻瓜”式设计,系统运行状态一目了然,使用方便,是一款高性价比的实验室超纯水机,能够满足各类光谱/色谱/质谱等精密仪器分析用水需求。

 

技术指标 :

机 型HAD-UPT-I-20T
进水水源总溶解性固形物TDS<200ppm,水压0.10-0.40MPa,水温5-45℃
制 水 量20升/小时
出水流量1.5-1.8升/分钟(水箱储水时)
RO出水水质电导率≤进水电导率×2%
UP出水水质电阻率17-18.2MΩ.cm(在线监测)
主机尺寸(mm)台上式(L×W×H):515×320×485
工作电源AC220V/50HZ(功率:30-150W)
重 量(kg)30-40kg
适用范围制备溶液,试剂,缓冲液等;
器皿冲洗/学生实验;
小型生化仪配套;
理化检测等常规定性定量分析;
......
水箱配置台上式机型标配15升压力纯水箱

订货须知:

源水水质较差(TDS>200ppm)时,本机型RO纯水水质会降低至电导率10μs/cm以上;
台上分体式机型均可改装为一体落地式机型(原台上式基本配置不变);
选配0.2μm终端微滤器
纯水箱配置:台上式机型标配15升压力纯水箱 
20升/小时落地式标配40升压力纯水箱
40~60升/小时落地式标配70升压力纯水箱
100升/小时落地式机型标配100升压力纯水箱

 
产品名称:薄膜测厚仪 测厚仪 
货  号:29204
产品型号:HAD-SGC-10
仪器介绍

HAD-SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是我公司与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关键部件均为国外进口,也可根据客户需要整机进口。

   

 

- 强大的软件功能

界面友好,操作简便,用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大,可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。

 

 

 

 

 

- 产品功能适用性

该仪器适用于多种介质,半导体,薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。

 

 

 

- 典型的薄膜材料为

SiO2、CaF2、MgF、光刻胶、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亚胺、高分子膜。

 

 

 

- 典型的基底材料为

SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、铝丙烯酸、蓝宝石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。

 

仪器具有开放性设计,仪器的光纤探头可很方便地取出,通过仪器附带的光纤适配器(如图所示)连接到带C-mount适用于微区(>10μm,与显微镜放大率有关)薄膜厚度的显微镜(显微镜需另配),就可以使本测量仪测量。

 


基本配置及参数

产品相关关键字: 小型全自动氢气站 全自动氢气站
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