全自动真密度分析仪/密度分析仪 型号：MMK-AccuPycII1340 全自动密度分析仪AccuPyc1340秉承了AccuPyc1330快速，高精度的特点，且新一代的AccuPyc1340对材料的适应能力更强，能接受更多种类的分析材料，如各种粉末，固体材料及泥浆物质等，分析材料的体积范围达到0.01-350CM3，重复性为±0.01%,精度为±0.03%。其的气体置换使得整个分析过程不超过三分种。配合Optional FoamPyc 闭孔率测试软件，能够测试各类开孔/闭孔发泡材料。
参数：
AccuPyc 1340 是适用于各种粉末，固体材料及泥浆物质的密度分析仪，的气体置换使分析时间不超过三分钟。
1、分析材料的体积范围达到0.01-350CM3
2、重复性为±0.01%,精度为±0.03%
主要特点：
1、配合Optional FoamPyc 闭孔率测试软件，能够测试各类开孔/闭孔发泡材料
2、能够控制操作一至五个外带的样品分析模块
3、真正的全自动操作
4、的温度控制系统可以根据测试需要调节温度
5、GLOVE BOX MODEL能够保证测试结果不会因环境温度的变化而受影响
6、可根据需要选择方便快捷的自带小键盘或数据保存功能全面的电脑操作系统 产品名称：薄膜测厚仪 测厚仪
产品型号：HAD-SGC-10 |
仪器介绍HAD-SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司的薄膜测厚，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。该设备关键部件均为国外进口，也可根据客户需要*。 - 强大的软件功能 界面友好，操作简便，用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大，可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。 
 - 产品功能适用性 该仪器适用于多种介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。 - 典型的薄膜材料为 SiO2、CaF2、MgF、光刻胶、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亚胺、高分子膜。 - 典型的基底材料为 SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、铝丙烯酸、蓝宝石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。 
仪器具有开放性，仪器的光纤探头可很方便地取出，通过仪器附带的光纤适配器（如图所示）连接到带C-mount适用于微区（>10μm，与显微镜放大率有关）薄膜厚度的显微镜（显微镜需另配），就可以使本测量仪测量。
基本配置及参数
在线二氧化氯检测仪 二氧化氯测试仪 型号：HAD-CL8136H 在线二氧化氯是带微处理器的水质在线监测控制仪。该仪表广泛用于饮用水处理厂、饮用水分布网、游泳池、水质处理工程、污水处理、水质消毒(二氧化氯发生器配套)等各个行业过程，对水溶液中的二氧化氯值进行连续监测和控制。 仪表特点 ● 中/英文菜单操作多种自动标定功能 多种信号输出方式可选 两组继电器控制开关 高限、低限、迟滞量控制 同一界面显示二氧化氯值和状态等 设有密码保护防止非工作人员误操作
参数： 测量范围：
二氧化氯：0～20.00mg/L（ppm）；温 度：0～50.0℃（选配）； 分辨率：
二氧化氯：0.001mg/L； 温 度：0.1℃； 基本误差：
二氧化氯：±1%F.S； 温 度：±0.3℃； 响应时间：90%少于 90 秒； 电流输出（标配 1 路，可选配 2 路）： 0/4～20mA(负载电阻＜750Ω)；
20～4mA(负载电阻＜750Ω)； 通讯输出：RS485 MODBUS RTU（选配）； 两组继电器控制触点： 10A 250VAC，10A 30VDC； 供电电源（选配）： 85～265VAC±10%,50±1Hz，功率≤3W；
9～36VDC，功率：≤3W； （9）外型尺寸：96×96×130mm； 安装方式：盘装（嵌入式）；安装开孔尺寸：91×91mm； 防护等级：IP54；
（12）重量：0.5kg； （13）工作环境： 环境温度：-10～60℃； 相对湿度：不大于 90%； 除地球磁场外周围无强磁场干扰。 经济型超纯水机 超纯水机 HAD-UPT-I-10T 产品介绍： 经济型超纯水机HAD-UPT-I-10T经济型超纯水机精简,可直接将自来水纯化为符合国标GB6682-92的实验室级纯水和超纯水,全自动“傻瓜”式,系统运行状态一目了然,使用方便,是一款高性价比的实验室超纯水机,能够满足各类光谱/色谱/质谱等仪器分析用水需求。 指标 ： | 机 型 | HAD-UPT-I-20T | | 进水水源 | 总溶解性固形物TDS＜200ppm,水压0.10-0.40MPa,水温5-45℃ | | 制 水 量 | 20升/小时 | | 出水流量 | 1.5-1.8升/分钟(水箱储水时) | | RO出水水质 | 电导率≤进水电导率×2% | | UP出水水质 | 电阻率17-18.2MΩ.cm(在线监测) | | 主机尺寸(mm) | 台上式(L×W×H)：515×320×485 | | 工作电源 | AC220V/50HZ(功率：30-150W) | | 重 量(kg) | 30-40kg | | 适用范围 | 制备溶液,试剂,缓冲液等；
器皿冲洗/学生实验；
小型生化仪配套；
理化检测等常规定性定量分析；
...... | | 水箱配置 | 台上式机型标配15升压力纯水箱 |
订货须知： 源水水质较差（TDS＞200ppm）时,本机型RO纯水水质会降低至电导率10μs/cm以上；
台上分体式机型均可改装为一体落地式机型（原台上式基本配置不变）；
选配0.2μm终端微滤器
纯水箱配置：台上式机型标配15升压力纯水箱
20升/小时落地式标配40升压力纯水箱
40～60升/小时落地式标配70升压力纯水箱
100升/小时落地式机型标配100升压力纯水箱 产品名称：薄膜测厚仪 测厚仪
货 号：29204
产品型号：HAD-SGC-10 |
仪器介绍HAD-SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司的薄膜测厚，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。该设备关键部件均为国外进口，也可根据客户需要*。 - 强大的软件功能 界面友好，操作简便，用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大，可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。
- 产品功能适用性 该仪器适用于多种介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。 - 典型的薄膜材料为 SiO2、CaF2、MgF、光刻胶、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亚胺、高分子膜。 - 典型的基底材料为 SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、铝丙烯酸、蓝宝石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。
仪器具有开放性，仪器的光纤探头可很方便地取出，通过仪器附带的光纤适配器（如图所示）连接到带C-mount适用于微区（>10μm，与显微镜放大率有关）薄膜厚度的显微镜（显微镜需另配），就可以使本测量仪测量。
基本配置及参数
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