涡流测厚仪 型号:TX-ED400

仪器特点
TX-ED400型涡流测厚仪与TX-ED300型相比，具有如下特点：
＊量程宽 TX-ED400型的量程达到0～500μm。
＊精度高 TX-ED400型的测量精度达到2%。
＊分辨率高 TX-ED400型的分辨率达到0.1μm。
＊校正简便 只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内保证精度。
＊基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量
误差不大于1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性
提高。
＊稳定性提高 采用的温度补偿，测量值随环境温度的变化很小。仪器
校正一次可在现场长期使用。
＊探头线寿命长 采用德国进口的，在德国测厚仪上使用的探头线，探头线寿命
可大大延长。
＊探头芯寿命长 采用高强度磁芯材料，微调了探头，探头芯寿命可大大延
长。
＊探头可互换 外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无
需返厂维修。

测量范围： 0～500μm
测量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可选）
使用温度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g