四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
四探针探头 探头 型号：GSZ-HP-501 
四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。 | ◆ 特性及规格： | | | 1 | 特制之手握式探笔 | 2 | 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 | 3 | 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 | 4 | 探头使用寿命长 | 5 | 探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ |
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型号
（Model） | 曲率半径
（Radius） | 压力
（loads） | 探针间距
（spacing） | 探针排列
（Arrangement） | GSZ-HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直线 |
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