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电阻率四探针测试仪 型号:HAD-WSP-51
点击次数:925 更新时间:2017-01-05

电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪  型号:HAD-WSP-51

基本参数

1. 测量范围、分辨率

电    阻:     1.0×10-2 ~ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10  Ω

电 阻 率:     1.0×10-3~ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ~ 0.1  Ω-cm

方块电阻:     1.0×10-3 ~ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可测半导体材料尺寸(手持式)

直        径:  测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

长(或高)度:  测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程划分及误差等级

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