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产品图片	产品名称/型号	产品简介
	HA-JA1003电子天平 *	电子天平 * 称量范围：0-100g Z小读数：1mg 秤盘尺寸：Φ80mm 输出接口：RS232C
	HA-JA2003电子天平 *	电子天平 * 称量范围：0-200g Z小读数：1mg 秤盘尺寸：Φ80mm 输出接口：RS232C
	LK-LB-FH夫兰克赫兹实验仪 *	夫兰克赫兹实验仪 * 充氩夫兰克-赫兹管（无需加热），点测谱峰（谷）数≥8，示波器观测谱峰（谷）数≥7，实验面板图示法表示，5块LED数字面板尽数显示实验参数，各参数表头独立，无需切换，清晰直观、简单便利、稳定可靠，手动、半自动实验方式齐全。
	LK-LB-PH3A光电效应（普朗克常数）实验仪 *	光电效应（普朗克常数）实验仪 * 光电管灵敏度≥1mA/Lm，暗电流≤10 -12A；零飘≤0.2%（满度读数，10 A档，预热20分种后，正常环境下30分钟内测得）；3位半LED显示，电流Z小显示10 A，电压Z小显示1mV，所以可以采用“零电流法”或“补偿法”精确测出截止电压
	LK-LB-EB3电子束（荷质比）实验仪 *	电子束（荷质比）实验仪 * 测量电子在电场、磁场中运动规律，电子荷质比和地磁分量，电子螺旋运动≥7π，电子聚焦≥3次
	LK-LB-EB4电子束（示波器）实验仪 *	电子束（示波器）实验仪 * 测量电子在电场、磁场中运动规律，示波器的原理、结构及组装，示波器的使用（配合其他仪器完成）
	LK-HT-648变温霍尔效应实验仪 *	变温霍尔效应实验仪 * 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量，进行半导体导电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。
	LK-HT218纳米微粒制备实验仪 *	纳米微粒制备实验仪 * 参照电阻加热蒸发法制备超微颗粒的原理，进行相关的金属、氧化物、高分子材料及其他材料的超微颗粒制备实验或演示。
	LK-HT188小型制冷和制冷性能实验仪 *	小型制冷和制冷性能实验仪 * 由小型制冷试验机和制冷性能实验仪两部分组成，可获得温度—时间响应特性，制冷量—温度特性，制冷系数和制冷效率并进行热过程分析。
	HA-JA5002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-510g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 Φ160mmX160mm 外形尺寸 223mmX330mmX80mm 电源 220V/50Hz
	HA-JA12002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-1200g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 160mmX160mm 外形尺寸 223mmX330mmX80mm
	HA-JA21002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-2100g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 Φ160mmX160mm
	LK-LB-SMP固体数字熔点仪 *	固体数字熔点仪数字熔点仪 * 用于观察和测量固体材料的熔化特性，进而分析判断单质材料的类型和分析判断二组分体系熔解特性并获取该组分体系的相图。真空炉透明，目视熔化过程，无烟雾等有害气体产生。恒流源、毫伏表均采用数字显示。
	HA-JA31002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-3100g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 Φ160mmX160mm
	LK-RB-II热导率动态测量仪 *	热导率动态测量仪动态测量仪 * 采用热波法测量良导热体的热导率，物理思想新颖，主要用于热学实验教学。
	HA-JA41002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-4100g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 Φ160mmX160mm
	HA-JA51002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-5100g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 Φ160mmX160mm 外形尺寸 223mmX330mmX80mm
	HA-JA61002电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-6100g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 Φ160mmX160mm 外形尺寸 223mmX330mmX80mm
	HA-YP102N电子天平 *	电子天平 * 称量范围 0-100g 读数精度 10mg 秤盘尺寸 Φ130mm
	LK-TF-BR程控比热容测量仪 *	程控比热容测量仪 * 采用自然冷却法测量比热，适合金属/液体比热测量。特点：具有温度保护功能；两种类型的温度传感器测量；仪器内含微处理器；具有电脑接口；全新的机械传动，操作更方便；控制软件功能强大。

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