电阻率测试仪-北京恒奥德科技有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简介
	HAD-FT-300A3导体材料电阻率测试仪	采用四端测量法适用于企业、高等院校、科研，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。
	HAD- QJ36C导体电阻材料电阻率测试仪	产品概述： HAD- QJ36C型导体电阻材料电阻率测试仪主要是为测量电线电缆导体直流电阻、材料电阻率、等制作的，
	GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A四探针测试仪（便携式）	GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
	HAD-KDY-1A便携式电阻率测试仪 *	便携式电阻测定仪/便携式电阻率测试仪 * HAD-KDY-1A便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
	HAD-SD-600电阻率测试仪/面电阻测试仪 *	电阻率测试仪/面电阻测试仪 * HAD-SD-600型电阻率测试仪用于测量绝缘材料（如塑料薄膜、纸张、玻璃等）上导电涂层的薄片电阻率。HAD-SD-600采用了可靠和精确的4针测量、直观显示测量出的单位电阻率（每平方厘米）。
	HHY8-FZ-2010粉末电阻率测试仪/半导体粉末电阻率测试仪 *	粉末电阻率测试仪/半导体粉末电阻率测试仪 * HHY8-FZ-2010半导体粉末电阻率测试仪是本公司根据能源方面，与其是锂电池的研究需求，开发的型粉末电阻率测试仪。
	HADFM100H粉末电阻率测试仪	粉末电阻率测试仪 HADFM100H参照有关标准进行，用于粉末测量，本仪器将原单片微机的数据处理部分舍去，采用硬件进行电阻率的自动计算，使仪器的可靠性和稳定度大大加强，更方便于用户，而且价格低廉，实惠。
	HAD-SB36液体（固体）体积电阻率测试仪	液体（固体）体积电阻率测试仪液体体积电阻率及表面电阻率测试仪是根据GB/T 1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》（等同IEC 60093）和GB/T 10064-2006《测量固体绝缘材料绝缘电阻的实验方法》（等同IEC 60167）而和的。
	HA/DX200GH电线电缆电阻率检测仪/电阻率测试仪	电线电缆电阻率检测仪/电阻率测试仪一测量范围：电阻 10-5----105Ω，分辨率 10-8 （配套夹具另配）线材直径： 1mm—40mm 二测量误差： 10-4---105Ω， 0.15% 10-5 Ω ， 0.25%
	GSZ-RTS-2四探针测试仪（便携式）/四探针电阻率测试仪	四探针测试仪（便携式）/四探针电阻率测试仪 GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
	HASB40B数字固体体积电阻率及表面电阻率测试仪/	数字固体体积电阻率及表面电阻率测试仪/ HASB40B固体体积电阻率及表面电阻率测试仪是根据GB/T 1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》（等同IEC 60093）和GB/T 10064-2006《测量固体绝缘材料绝缘电阻的实验方法》（等同IEC 60167）而和的。
	HAD-JXNR-1非接触电阻率测试仪非接触厚度测试仪非接触测试仪	非接触电阻率测试仪非接触厚度测试仪非接触测试仪 1.非接触测量硅半导体材料的电阻率 2.适合测试硅片，不损伤样品表面。 3.采用通用PC处理数据,方便数据存储、打印 4.软件界面直观友好
	HAD-JXNR非接触电阻率测试仪非接触厚度测试仪非接方块电阻触测试仪	非接触电阻率测试仪非接触厚度测试仪非接方块电阻触测试仪 1.非接触测量硅半导体材料的电阻率 2.适合测试硅片，不损伤样品表面。 3.采用通用PC处理数据,方便数据存储、打印
	HAD-ETCR3000B接地电阻/土壤电阻率测试仪	接地电阻/土壤电阻率测试仪　　ETCR3000B接地电阻/土壤电阻率测试仪专为现场测量接地电阻、土壤电阻率、接地电压、交流电压而精心的，采用数字及微处理，4线法、3线法和简易2线法测量接地电阻，导入FFT（快速傅立叶变换）、AFC（自动频率控制），具有的抗干扰能力和环境适应能力，重复测试*强，确保长年测量的高精度、高稳定性和高可靠性。
	HAD-FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪电阻率测试仪	电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪电阻率测试仪 HAD-FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪是根据国标GB11017-89所规定的测试方法和指标而的，用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。
	ST2258C数字式四探针测试仪四探针电阻率测试仪	数字式四探针测试仪四探针电阻率测试仪 ST2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
	FT-300经济型粉末电阻率测试仪半导体粉末电阻率测试仪	经济型粉末电阻率测试仪半导体粉末电阻率测试仪本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研，是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。
	WBDY-V/SB2881油体积电阻率测试仪，油电阻率测试仪	油体积电阻率测试仪，油电阻率测试仪 WBDY-V型绝缘油体积电阻率测定仪DL421-91《绝缘油体电阻率测定法》的电力行业标准为依据，根据有源电桥的原理研制成功的一种新型电阻率测定仪器，具有结构简单、线性度好、灵敏度高、测试结果稳定、操作安全等优点，其性能远高于通常的电压电流法。
	SB36液体（固体）体积电阻率测试仪表面电阻率测试仪	液体（固体）体积电阻率测试仪表面电阻率测试仪 SB36液体（固体）体积电阻率测试仪SB36液体体积电阻率及表面电阻率测试仪是根据GB/T 1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》（等同IEC 60093）和GB/T 10064-2006《测量固体绝缘材料绝缘电阻的实验方法》（等同IEC 60167）而和的。
	HAD-ST2722半导体四探针电阻率测试仪电阻率测定仪	半导体四探针电阻率测试仪电阻率测定仪 ST2722 型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。

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