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产品名称/型号
产品简介
GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A四探针测试仪（便携式）
GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
HA/RTS-5双电测四探针测试仪
双电测四探针测试仪/四探针测试仪 型号：HA/RTS-5
HAD-WSP-51便携式四探针检测仪 *
方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 * HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。
HAD-ST2258A数字式四探针测试仪 *
数字式四探针测试仪/数字式四探针测试仪 * HAD-ST2258A型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
GSZ-RTS-2四探针测试仪（便携式）/四探针电阻率测试仪
四探针测试仪（便携式）/四探针电阻率测试仪 GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
HAD-M-2数字式四探针测试仪/四探针电阻率测定仪/四探针测试仪
数字式四探针测试仪/四探针电阻率测定仪/四探针测试仪 HAD-M-2型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
HAD-SZT-2A四探针测试仪
四探针测试仪 1．SZT-2A 主机采用领xian的电路，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。 2．屏幕采用液晶显示（一代为只有数码管显示）。
ST2258C数字式四探针测试仪 四探针电阻率测试仪
数字式四探针测试仪 四探针电阻率测试仪 ST2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
HAD-M-3手持式四探针测试仪 四探针电阻率测试仪
手持式四探针测试仪 四探针电阻率测试仪 HAD-M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
GSZ-RTS-9双电测四探针测试仪/四探针测试仪
双电测四探针测试仪/四探针测试仪 采用了四探针双电测组合（亦称双位组合）测量新,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。
HARTS-8四探针检测仪
四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪 HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。
GSZ-RTS-5双电测四探针测试仪
双电测四探针测试仪 GSZ-RTS-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合（亦称双位组合）测量新,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。
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